OPI∙LabLaboratorio de Óptica y Procesamiento de Imágenes
Somos un laboratorio de óptica aplicada y procesamiento de imágenes enfocados en metrología óptica, imagenología médica, reconstrucción 3D, microscopía y procesamiendo digital de imágenes.
Noticias
30 enero 2023
Artículo «Corneal endothelium assessment in specular microscopy images with Fuchs’ dystrophy via deep regression of signed distance maps» publicado en Biomedical Optics Express. Felicitamos a nuestro estudiante de maestría Juan Sierra y a todos nuestros colaboradores.
14 octubre 2022
El profesor Hernando Altamar presentó avances de su tesis de doctorado en OSA Imaging and Applied Optics. en Munich, Alemania. ¡Éxitos!
20 abril 2022
Número especial de OPA «Óptica en Colombia». El profesor Marrugo participó como editor invitado para el número especial.
Reconstrucción 3D para la inspección de tuberías de oleoductos
Desarrollo de un dispositivo óptico de reconstrucción 3D para la medición de deformaciones en tuberías de oleoductos con abolladuras. Reconstrucción 3D para medición de deformaciones en tuberías de oleoductos con abolladuras.
Conoce a nuestro personal
Andrés Marrugo Profesor asociado
Image Processing Medical Imaging Optical Metrology
Lenny Romero Profesora asociada
Image Processing Optical Metrology Diffractive Optics
Hernando Altamar Profesor asistente / Estudiante de doctorado
MicroscopyImage Processing
Jhacson Meza Estudiante de maestría
Noticias
Septiembre
Detection and removal of dust artifacts in retinal images via sparse-based inpainting. Erik Barrios, Enrique Sierra, Lenny A. Romero, María S. Millán, and Andres G. Marrugo. Optica Pura y Aplicada.
Julio
State-of-the-art active optical techniques for three-dimensional surface metrology: a review. Andres G. Marrugo, Feng Gao, and Song Zhang. Journal of the Optical Society of America A.
Abril
Wide-field 3D imaging with an LED pattern projector for accurate skin feature measurements via Fourier transform profilometry,. Andres G. Marrugo, Lenny A. Romero, and Jaime Meneses. Proc. of SPIE, Dimensional Optical Metrology and Inspection for Practical Applications VIII.
